흔히 '미니 뇌졸중'으로 불리는 일과성 뇌허혈 발작(tia) 이후 치매 위험이 최대 20년 이상 지속되며, 장기적으로는 뇌졸중 이후와 비슷한 수준까지 높아진다는 대규모 연구 결과가 나왔다. 캐나다 맥마스터대학교 라에드 주운디(raed a. joundi) 박사 연구팀은 캐나다 온타리오주의 의료 데이터를 활용해 일과성 뇌허혈 발작 환자 11만 3,081명을 최대 21년간 추적해 이 같은 사실을 확인했다. 이번 연구는 일과성 뇌허혈 발작을 '일시적이고 큰 해가 없는 사건'으로 가볍게 여기는 인식을 바꾸고, 치매 예방을 일과성 뇌허혈 발작 이후 관리의 핵심 목표로 삼아야 한다는 근거를 제시했다는 점에서 주목받고 있다.

일과성 뇌허혈 발작은 뇌로 가는 혈류가 일시적으로 막혀 팔다리 마비, 언어 장애, 시야 이상 등 신경 증상이 수 분에서 수 시간 동안 나타났다가 완전히 사라지는 질환이다. 증상이 회복된다는 점에서 뇌졸중과 다르지만, 이후 뇌졸중으로 이어질 위험이 높아 '뇌졸중 경고 신호'로 여겨진다. 연구팀은 2002년부터 2022년까지 처음으로 일과성 뇌허혈 발작을 진단받은 성인 11만 3,081명(평균 나이 70세, 여성 50%)을 나이, 성별, 혈관 위험인자 등이 비슷한 일반인과 비교했다. 뇌졸중 환자 10만 48명과도 따로 비교 분석했다. 치매 발생 여부는 입원 기록, 의사 진료 기록, 치매 치료 약 처방 이력으로 확인했다.

분석 결과, 일과성 뇌허혈 발작 환자의 19.3%, 즉 5명 중 1명이 평균 7년 추적 기간 동안 치매를 진단받았다. 일반인 대조군(15.2%)보다 유의미하게 높은 수치다. 치매 위험은 일과성 뇌허혈 발작 발생 첫 1년 내에 가장 높아 일반인보다 1.75배 높았고, 이후 다소 낮아졌지만 20년 이상 지속적으로 높게 유지됐다. 뇌졸중과 비교하면, 초기 1년에는 치매 위험이 뇌졸중보다 낮았지만, 5년이 지나면서 두 그룹의 치매 위험이 비슷한 수준으로 수렴됐다. 주목할 점은 일과성 뇌허혈 발작 이후 치매 발생률이 재발 뇌졸중 발생률보다 약 3배 높았다는 것이다. 이후 발생한 뇌졸중을 감안해도 치매 위험은 크게 낮아지지 않아, 치매 위험 증가가 단순히 재발 뇌졸중만으로는 설명되지 않는다는 점도 확인됐다.

이번 연구의 핵심은 일과성 뇌허혈 발작을 일시적이고 무해한 사건이 아니라, 치매라는 심각한 장기 합병증의 강력한 경고 신호로 봐야 한다는 점을 역대 최대 규모의 추적 연구로 입증했다는 것이다. 일과성 뇌허혈 발작 이후, 뇌졸중 예방 못지않게 인지기능 저하 예방도 관리의 핵심 목표가 돼야 함을 시사한다. 다만 연구팀은 이번 연구가 진단 코드에 의존했고 뇌 영상 데이터와 인지기능 검사 결과가 없다는 한계가 있다고 밝혔다.

연구를 이끈 라에드 주운디 박사는 "일과성 뇌허혈 발작을 일시적이고 덜 해로운 사건으로 인식하면 이차 예방 치료 순응도가 낮아질 수 있다"라며 "뇌졸중 위험뿐 아니라 이번 연구에서 확인된 높은 치매 위험까지 함께 인식한다면, 혈관 위험인자 관리를 더 철저히 하고 인지기능 추적 검사를 늘리는 방향으로 이어질 것"라고 밝혔다.

이번 연구 결과(long-term risk of dementia after tia: a population-wide matched cohort study: tia 이후 장기적 치매 위험: 인구 전체 대상 매칭 코호트 연구)는 2026년 9월 국제 학술지 '뉴롤로지(neurology)'에 게재됐다.